ICC訊 聯(lián)訊儀器最新推出的S2019C四通道PXIe SMU,在保持S2011C/S2012C/S2016C系列硬件平臺優(yōu)勢的基礎(chǔ)上,實現(xiàn)了功能升級與性能突破。該設(shè)備創(chuàng)新性地集成了自動量程等智能化功能,具備四通道同步輸出與測量能力,支持±40V寬電壓范圍輸出,并提供±500mA(直流)和±1A(脈沖)雙模式電流輸出。其突破性的pA級電流測量精度,配合優(yōu)異的動態(tài)性能表現(xiàn),完全覆蓋傳統(tǒng)型號的所有應用場景,能夠滿足5G射頻器件、光電器件對測試精度和穩(wěn)定性的嚴苛要求。
1、產(chǎn)品特點
分辨率高達1μV/1pA
電流分辨率低至1pA,電壓分辨率達1μV,精準捕捉nA級漏電、μV級信號波動。
4通道獨立/同步控制
支持四通道并行輸出與測量,可同時完成多器件IV特性掃描或特征參數(shù)測量,大幅提升測試效率。
±40V/±1A寬域動態(tài)覆蓋,脈沖源與直流源集于一身
直流±40V/±500mA,脈沖±1A輸出能力,輕松應對半導體器件測試、高精度傳感器采集等場景。
1MS/s高速采樣 + APFC動態(tài)調(diào)優(yōu)
1MS/s超高速ADC采樣率,結(jié)合自適應精密快速控制(APFC)技術(shù),實現(xiàn)輸出波形亞毫秒級穩(wěn)定,瞬態(tài)響應無延遲。
直流IV輸出能力
多卡同步 + 全棧自動化支持
基于PXIe協(xié)議,支持多卡級聯(lián)擴展與硬件同步觸發(fā); 采用標準SCPI進行控制,支持C#、Python、C/C++、LabVIEW等編程語言控制,無縫融入現(xiàn)有測試平臺。
2、典型應用
半導體測試/硅光晶圓測試
半導體測試:MOSFET/ IGBT/BJT IV特性分析
?±40V/±1A寬范圍輸出和測量,搭配1μV/1pA分辨率,精確測量nA級到A級的電流變化。
?單卡四通道獨立輸出,匹配四端器件測試更加經(jīng)濟高效。
硅光晶圓測試:破解高集成芯片的暗電流難題
在硅光芯片制造中,nA級暗電流的精準測量直接決定器件性能與良率
?S2019C憑借1pA分辨率,可穩(wěn)定捕捉超低暗電流信號,搭配4通道并行架構(gòu),支持晶圓級多探針同步測試,實現(xiàn)硅光器件漏電流、響應度等參數(shù)的全覆蓋分析,為800G光模塊、激光雷達芯片提供可靠性保障。
硅光晶圓多探針同步測試
結(jié)語
S2019C 4通道PXIe SMU
精準捕捉毫伏/納安級信號,掌握微弱變化
覆蓋復雜工業(yè)場景,應對各類嚴苛測試環(huán)境
實驗室級數(shù)據(jù)精度,助力科研創(chuàng)新與工業(yè)升級
新聞來源:訊石光通訊網(wǎng)